J9九游会AG

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发(fa)布(bu)时(shi)间: 2019 - 10 - 08
NFC模块(kuai)测(ce)试(shi)条件测(ce)试(shi)频率(lv)(lv):13.56MHz测(ce)试(shi)参数:L、Q or Rs磁导(dao)率(lv)(lv):μ' & μ' at 13.56MHz饱和DC偏置电流(liu): 1A ~ 10AWPC模块(kuai)测(ce)试(shi)条件测(ce)试(shi)频率(lv)(lv)范围: 100KHz ~ 500KHz测(ce)试(shi)参数:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs ≥ 30mΩ自谐振频率(lv)(lv)范围:2MHz ~ 15MHz饱和DC偏置电流(liu):1A ~ 10A
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发布时(shi)间(jian): 2013 - 11 - 30
现在市(shi)场上(shang)测试(shi)的(de)(de)(de)一些材(cai)(cai)料(liao)(liao)表(biao)面无(wu)法(fa)加工甚至不(bu)可(ke)能加工至非(fei)常(chang)(chang)光滑,两(liang)面也无(wu)法(fa)做到平行(xing)度(du)(du)非(fei)常(chang)(chang)好(hao),这样(yang)用(yong)(yong)(yong)接触法(fa)测试(shi)这种(zhong)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)介电(dian)(dian)常(chang)(chang)数(shu)由于(yu)有(you)空气间(jian)隙(xi)(xi)的(de)(de)(de)将会存在非(fei)常(chang)(chang)大(da)的(de)(de)(de)误差(cha),如(ru)果要(yao)求测试(shi)这种(zhong)材(cai)(cai)料(liao)(liao)频率(lv)(lv)从20Hz~40MHz几乎不(bu)可(ke)能,测试(shi)样(yang)品举例如(ru)下面几幅图片。 用(yong)(yong)(yong)非(fei)接触法(fa)测试(shi)上(shang)述这些材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)介电(dian)(dian)常(chang)(chang)数(shu),不(bu)进对材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)表(biao)面的(de)(de)(de)粗糙度(du)(du)还有(you)两(liang)个(ge)(ge)(ge)面的(de)(de)(de)平行(xing)度(du)(du)的(de)(de)(de)要(yao)求不(bu)是特别高,测试(shi)的(de)(de)(de)准确度(du)(du)高。 理论(lun)上(shang)的(de)(de)(de)可(ke)行(xing)性: 其中: Cg:没(mei)有(you)被测物体(ti),两(liang)个(ge)(ge)(ge)电(dian)(dian)极(ji)板之(zhi)间(jian)的(de)(de)(de)电(dian)(dian)容(rong) Cm:有(you)被测物体(ti),两(liang)个(ge)(ge)(ge)电(dian)(dian)极(ji)板之(zhi)间(jian)的(de)(de)(de)电(dian)(dian)容(rong) Dg:没(mei)有(you)被测物体(ti),两(liang)个(ge)(ge)(ge)电(dian)(dian)极(ji)板形成电(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)(de)损(sun)(sun)耗(hao) Dm:有(you)被测物,两(liang)个(ge)(ge)(ge)电(dian)(dian)极(ji)板行(xing)程电(dian)(dian)容(rong)的(de)(de)(de)损(sun)(sun)耗(hao) tg:电(dian)(dian)极(ji)板之(zhi)间(jian)的(de)(de)(de)空气间(jian)隙(xi)(xi)厚度(du)(du) tm:材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)厚度(du)(du) 测试(shi)夹(jia)具: WK 1J1020 测试(shi)夹(jia)具配合(he)J9九游会AG 6500B系列精密阻抗分析仪(yi)或者(zhe)在J9九游会AG 6500P 高频 LCR 表(biao)上(shang)使用(yong)(yong)(yong),最高频率(lv)(lv)可(ke)达 40MHz。夹(jia)具设计用(yong)(yong)(yong)于(yu)夹(jia)持平面圆盘状材(cai)(cai)料(liao)(liao),材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)直(zhi)(zhi)径(jing)不(bu)小于(yu) 38mm,厚度(du)(du)不(bu)大(da)于(yu) 15mm。1020 夹(jia)具的(de)(de)(de)两(liang)端(duan)电(dian)(dian)极(ji)之(zhi)间(jian)的(de)(de)(de)间(jian)距是可(ke)调(diao)整(zheng)的(de)(de)(de),并通(tong)过千(qian)分尺测量,夹(jia)具图片如(ru)下图。 配合(he)1J1020的(de)(de)(de)测试(shi)软(ruan)件(jian): 在WK 6500B(P)有(you)软(ruan)件(jian)选配项/K是专门用(yong)(yong)(yong)于(yu)测试(shi)材(cai)(cai)料(liao)(liao)介电(dian)(dian)常(chang)(chang)数(shu)和磁导率(lv)(lv)的(de)(de)(de)软(ruan)件(jian),可(ke)以(yi)(yi)通(tong)过此软(ruan)件(jian)进行(xing)设定相关参(can)数(shu),在仪(yi)表(biao)上(shang)可(ke)以(yi)(yi)直(zhi)(zhi)接读出材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)介电(dian)(dian)常(chang)(chang)数(shu)或者(zhe)绘(hui)制(zhi)材(cai)(cai)料(liao)(liao)的(de)(de)(de)介电(dian)(dian)常(chang)(chang)数(shu)曲(qu)线,软(ruan)件(jian)的(de)(de)(de)界(jie)面如(ru)下图。 更多的(de)(de)(de)资料(liao)(liao)可(ke)以(yi)(yi)参(can)考(kao) 6500 K option Material
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发布时间: 2015 - 02 - 06
WK阻(zu)抗分析仪在(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表征(zheng)和测(ce)(ce)(ce)量领(ling)域新标杆                                                                               ——Partulab高温(wen)(wen)介(jie)电(dian)(dian)测(ce)(ce)(ce)量系(xi)统(tong) 2015年1月30日(ri),武汉佰(bai)力博科技(Partulab)隆重宣布(bu)新产品(pin)(pin)(pin)VDMS系(xi)列上市销售,此次发布(bu)的(de)VDMS系(xi)列产品(pin)(pin)(pin)主要有:高温(wen)(wen)介(jie)电(dian)(dian)测(ce)(ce)(ce)量系(xi)统(tong)VDMS2000H和变温(wen)(wen)介(jie)电(dian)(dian)测(ce)(ce)(ce)量系(xi)统(tong)VDMS2000HL,主要应(ying)用于(yu)研(yan)究(jiu)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表征(zheng)和材(cai)(cai)料(liao)(liao)介(jie)电(dian)(dian)性能,实(shi)现了高温(wen)(wen)、低(di)温(wen)(wen)、变温(wen)(wen)、真(zhen)空、气(qi)氛等条件下(xia)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表征(zheng)性能测(ce)(ce)(ce)量,该产品(pin)(pin)(pin)的(de)成功发布(bu),标志着我(wo)国在(zai)材(cai)(cai)料(liao)(liao)表征(zheng)测(ce)(ce)(ce)量行(xing)业(ye)取得了突破性进行(xing)。 VDMS系(xi)列产品(pin)(pin)(pin)不仅在(zai)多条件下(xia)进行(xing)测(ce)(ce)(ce)量,而且操作(zuo)简(jian)单,分析数据(ju)清晰(xi)可见,此外,在(zai)研(yan)发过程中(zhong)已(yi)经(jing)考虑了多种产品(pin)(pin)(pin)的(de)集成,省(sheng)去了研(yan)究(jiu)过程中(zhong)设备(bei)购买的(de)复(fu)杂过程,集成化(hua)程度非(fei)常高,VDMS系(xi)统(tong)可以WK公(gong)司6500系(xi)列产品(pin)(pin)(pin)无缝连接(jie),...
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发(fa)布时间(jian): 2013 - 11 - 29
高达250A的(de)(de)DC偏(pian)置(zhi)电流四线(xian)式(shi)或两线(xian)测(ce)试(shi)(shi)方式(shi)应用(yong)举(ju)例:测(ce)试(shi)(shi)线(xian)圈、变压(ya)器、电感工(gong)作状态的(de)(de)饱和特性Wk3260B(3MHz)  精(jing)(jing)密磁(ci)性元件分析仪0.1%基(ji)本测(ce)量精(jing)(jing)度扫(sao)描曲线(xian)分析模式(shi)DC偏(pian)流快(kuai)速升和快(kuai)速降(jiang)功能饱和变化率测(ce)试(shi)(shi)(Delta L)8个(ge)不同的(de)(de)DC饱和电流点测(ce)试(shi)(shi)低至0.1mΩ的(de)(de)Rdc、Rs和Q的(de)(de)精(jing)(jing)确测(ce)试(shi)(shi)内置(zhi)1A的(de)(de)DC偏(pian)流源          2014年 台(tai)达集团(DELTA)购买此系统并成功应用(yong)测(ce)试(shi)(shi)于大功率线(xian)圈
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发布时间: 2013 - 11 - 29
英国(guo)Wayne Kerr的WK6565 120MHz高频直流(liu)重叠电流(liu)源接连斩(zhan)获两大(da)奖,分别是(shi)中(zhong)国(guo)工(gong)信部2014 CITE 创(chuang)新(xin)(xin)产品与(yu)应用奖和(he)台湾(wan)TAITORNICS 科技(ji)创(chuang)新(xin)(xin)金牌奖。 英国(guo)Wayne Kerr技(ji)术长Allen Miller专程来中(zhong)国(guo)大(da)陆(lu)和(he)台湾(wan)介绍这款(kuan)测试(shi)仪器。Allen表(biao)示,这次获奖对该公(gong)司(si)英国(guo)研发(fa)团队是(shi)很大(da)的激励,而且增加不少新(xin)(xin)产品曝光的机(ji)会,希望未来有更多开发(fa)的新(xin)(xin)机(ji)种皆可以在中(zhong)国(guo)抢先全世界发(fa)表(biao)。 图为我司(si)总经理林(lin)谦领取[中(zhong)国(guo)工(gong)信部2014 CITE创(chuang)新(xin)(xin)产品与(yu)应用奖] 该成(cheng)果已成(cheng)功应用于华(hua)为公(gong)司(si)生(sheng)产研发(fa)
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