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项(xiang)目案例 Case

用非接触(chu)法测(ce)试材料(liao)的介电常数(shu)

日期: 2014-11-30
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现(xian)在(zai)市场上测试(shi)的(de)(de)一些材料表面(mian)(mian)无法(fa)加(jia)工甚至不可(ke)能(neng)加(jia)工至非常(chang)(chang)光滑(hua),两(liang)面(mian)(mian)也无法(fa)做到(dao)平行度非常(chang)(chang)好,这样用接触法(fa)测试(shi)这种(zhong)材料的(de)(de)介电常(chang)(chang)数由于有空(kong)气间隙的(de)(de)将会存在(zai)非常(chang)(chang)大的(de)(de)误差,如果(guo)要求测试(shi)这种(zhong)材料频率从20Hz~40MHz几乎不可(ke)能(neng),测试(shi)样品(pin)举例如下面(mian)(mian)几幅(fu)图片(pian)。


用非接触法测试材料的介电常数

用非接触法测试材料的介电常数

用非接触法测试材料的介电常数


用非接触法测试(shi)上述这些材料(liao)的(de)介电(dian)常数,不(bu)进(jin)对材料(liao)的(de)表(biao)面(mian)的(de)粗糙度还有两个面(mian)的(de)平(ping)行度的(de)要求不(bu)是特别高,测试(shi)的(de)准确(que)度高。

理论上的(de)可行性(xing):

用非接触法测试材料的介电常数

其中:

Cg:没有被测物体,两个(ge)电极板之间的(de)电容

Cm:有被测(ce)物体,两个电极板之间的电容(rong)

Dg:没有被测物(wu)体,两个(ge)电(dian)极板形成电(dian)容的损耗

Dm:有(you)被测物(wu),两个电极板行程电容的(de)损耗

tg:电极板之间的空气间隙厚(hou)度(du)

tm:材料的(de)厚度

测(ce)试夹(jia)具:

WK 1J1020 测试(shi)夹具配合(he)J9九游会AG 6500B系列精密(mi)阻抗分析(xi)仪或者在J9九游会AG 6500P 高(gao)频(pin) LCR 表(biao)上使(shi)用(yong),最(zui)高(gao)频(pin)率可达(da) 40MHz。夹具设计用(yong)于(yu)夹持平面圆(yuan)盘(pan)状材(cai)料,材(cai)料的(de)直(zhi)径不小于(yu) 38mm,厚(hou)度不大(da)于(yu) 15mm。1020 夹具的(de)两端电极之(zhi)间(jian)的(de)间(jian)距(ju)是(shi)可调整的(de),并(bing)通过千(qian)分尺测量,夹具图(tu)片如(ru)下(xia)图(tu)。

用非接触法测试材料的介电常数

配合1J1020的测试软(ruan)件:

在WK 6500B(P)有(you)软(ruan)(ruan)件选配(pei)项/K是(shi)专门用于测试材(cai)(cai)料(liao)介(jie)电(dian)常数(shu)和磁(ci)导(dao)率的(de)软(ruan)(ruan)件,可以通(tong)过此软(ruan)(ruan)件进行(xing)设定相关(guan)参数(shu),在仪(yi)表上(shang)可以直(zhi)接读出材(cai)(cai)料(liao)的(de)介(jie)电(dian)常数(shu)或者绘(hui)制材(cai)(cai)料(liao)的(de)介(jie)电(dian)常数(shu)曲线,软(ruan)(ruan)件的(de)界面如下图。

用非接触法测试材料的介电常数

用非接触法测试材料的介电常数

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